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測試項目分類
  • 材料微觀形貌測試
    超高分辨球差校正透射電子顯微鏡（Titan TEM 200）高分辨場發(fā)射透射電鏡（Tecnai G2 F30）高分辨場發(fā)射透射電子顯微鏡（JEM 2100F）超高分辨掃描電子顯微鏡（Nova NanoSEM 450）高分辨熱場發(fā)射掃描電鏡（Zeiss Merlin）高分辨冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡（Hitachi SU8020）高分辨冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡（Hitachi S-4800 ）原子力顯微鏡（Multimode 8）原子力顯微鏡（NT-MDT  Prima）
    超高分辨球差校正透射電子顯微鏡（Titan TEM 200）
    高分辨場發(fā)射透射電鏡（Tecnai G2 F30）
    高分辨場發(fā)射透射電子顯微鏡（JEM 2100F）
    超高分辨掃描電子顯微鏡（Nova NanoSEM 450）
    高分辨熱場發(fā)射掃描電鏡（Zeiss Merlin）
    高分辨冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡（Hitachi SU8020）
    高分辨冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡（Hitachi S-4800 ）
    原子力顯微鏡（Multimode 8）
    原子力顯微鏡（NT-MDT  Prima）
    高真空掃描探針顯微鏡系統(tǒng)（SPI 3800N）
    原子力顯微鏡（MFP-3D）
    激光共聚焦顯微鏡（FV1200）
  • 材料結(jié)構(gòu)成分分析
    電子背散射衍射分析儀（Zeiss Merlin-EBSD）紫外光電子能譜（ESCALAB 250Xi-UPS）多功能X射線光電子能譜儀（Kratos）俄歇電子能譜儀（ESCALAB 250XI-AES）多功能光電子能譜儀（ESCALAB 250XI）X射線粉末衍射儀（Advance D8）X射線單晶衍射儀（D8 Advance（達芬奇設(shè)計））X射線粉末衍射儀（島津?X-7000）電子探針X射線顯微分析儀（JAX-8230）
    電子背散射衍射分析儀（Zeiss Merlin-EBSD）
    紫外光電子能譜（ESCALAB 250Xi-UPS）
    多功能X射線光電子能譜儀（Kratos）
    俄歇電子能譜儀（ESCALAB 250XI-AES）
    多功能光電子能譜儀（ESCALAB 250XI）
    X射線粉末衍射儀（Advance D8）
    X射線單晶衍射儀（D8 Advance（達芬奇設(shè)計））
    X射線粉末衍射儀（島津?X-7000）
    電子探針X射線顯微分析儀（JAX-8230）
    X射線熒光光譜儀（XRF-1800）
    飛行時間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）
  • 材料光學性能測試
    熒光壽命測試儀（Quantaurus—Tau）吡啶紅外（尼高力 380）傅立葉紅外分光光度計（IRPrestige 21）紫外-可見分光光度計（Shimadzu UV3600）激光粒度分析儀（Zetasizer Nano ZS90）激光顯微拉曼光譜儀（LabRAM HR Evolution)激光顯微拉曼光譜儀（Renishaw inVia）橢偏儀（VB-400）瞬態(tài)熒光光譜儀（FS920）
    熒光壽命測試儀（Quantaurus—Tau）
    吡啶紅外（尼高力 380）
    傅立葉紅外分光光度計（IRPrestige 21）
    紫外-可見分光光度計（Shimadzu UV3600）
    激光粒度分析儀（Zetasizer Nano ZS90）
    激光顯微拉曼光譜儀（LabRAM HR Evolution)
    激光顯微拉曼光譜儀（Renishaw inVia）
    橢偏儀（VB-400）
    瞬態(tài)熒光光譜儀（FS920）
    原子吸收光譜儀（AAnalyst 800）
    圓二色儀（Chirascan）
    表面等離子體共振（Biacore 3000）
  • 材料磁電性能測試
    無液氦綜合物性測量系統(tǒng)（QD Dynacool）電子順磁共振波譜儀(ESR FA200)霍爾效應(yīng)測試儀（HMS-5000）精密阻抗分析儀（4294a）太陽能電池性能測試（Newport PVIV-412V）鐵電測試系統(tǒng)（RTI-Multiferroic）半導體參數(shù)分析儀(Keithley 4200)網(wǎng)絡(luò)分析儀（Agilent N5244A）穆斯堡爾譜儀（WISSEL）
    無液氦綜合物性測量系統(tǒng)（QD Dynacool）
    電子順磁共振波譜儀(ESR FA200)
    霍爾效應(yīng)測試儀（HMS-5000）
    精密阻抗分析儀（4294a）
    太陽能電池性能測試（Newport PVIV-412V）
    鐵電測試系統(tǒng)（RTI-Multiferroic）
    半導體參數(shù)分析儀(Keithley 4200)
    網(wǎng)絡(luò)分析儀（Agilent N5244A）
    穆斯堡爾譜儀（WISSEL）
  • 材料熱學性能測試
    激光導熱儀（LFA 457）差示掃描量熱儀（DSC Q2000）熱電性能測試系統(tǒng)（ZEM-3）熱重分析儀（TG-Q500）熱重差示熱分析儀（HT1600）熱膨脹系統(tǒng)測試儀（耐馳 DIL402PC）機械熱分析（TMA402F3）DMA動態(tài)熱機械分析儀(TA Q800)
    激光導熱儀（LFA 457）
    差示掃描量熱儀（DSC Q2000）
    熱電性能測試系統(tǒng)（ZEM-3）
    熱重分析儀（TG-Q500）
    熱重差示熱分析儀（HT1600）
    熱膨脹系統(tǒng)測試儀（耐馳 DIL402PC）
    機械熱分析（TMA402F3）
    DMA動態(tài)熱機械分析儀(TA Q800)
  • 材料力學性能測試
    原位納米力學測試系統(tǒng)（TriboIndenter）納米壓痕劃痕測試儀（安東帕 NHT2）動態(tài)超顯微硬度計（DUH-201S）電子材料試驗機（INSTRON　3343）數(shù)顯洛氏硬度計（HVS-1000）數(shù)顯維氏硬度計（HVS-50）
    原位納米力學測試系統(tǒng)（TriboIndenter）
    納米壓痕劃痕測試儀（安東帕 NHT2）
    動態(tài)超顯微硬度計（DUH-201S）
    電子材料試驗機（INSTRON　3343）
    數(shù)顯洛氏硬度計（HVS-1000）
    數(shù)顯維氏硬度計（HVS-50）
  • 材料理化性能測試
    三重四極桿質(zhì)譜儀（TSQ Quantum Access MAX）元素分析儀?(德國elementar 公司?vario EL cube)液體核磁共振波譜儀（Advance III 400HD）固體核磁波譜儀（VNMRS600）電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（安捷倫ICP-OES）全自動比表面積及微孔分析儀?（Autosorb iQ2）接觸角測量儀（OCA20）Zeta電位儀（Nano-ZS90）電化學工作站（Parstat PMC）
    三重四極桿質(zhì)譜儀（TSQ Quantum Access MAX）
    元素分析儀?(德國elementar 公司?vario EL cube)
    液體核磁共振波譜儀（Advance III 400HD）
    固體核磁波譜儀（VNMRS600）
    電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（安捷倫ICP-OES）
    全自動比表面積及微孔分析儀?（Autosorb iQ2）
    接觸角測量儀（OCA20）
    Zeta電位儀（Nano-ZS90）
    電化學工作站（Parstat PMC）
    全自動物理/化學吸附分析儀（康塔Quantachrome AutosorbiQ-C）
    四元液相色譜系統(tǒng) (1290 Infinity II)
  • 顯微紅外光譜儀
測試項目
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￥180
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￥450
￥600
￥400
￥150
￥120
*新項目
四元液相色譜系統(tǒng) (1290）
四元液相色譜系統(tǒng) (1290）
鐵電性能綜合測試系統(tǒng)
鐵電性能綜合測試系統(tǒng)
電子背散射衍射（EBSD-ME）
電子背散射衍射（EBSD-ME）
熱電性能測試系統(tǒng)（ZEM）
熱電性能測試系統(tǒng)（ZEM）
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